True Sample Topography
Accurate Sample Topography Measured by Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
私たちのAFMは、大きな帯域幅で0.02nm程度のノイズで、業界の最も効果的な低ノイズのZ検出器が装備されています。これは、非常に正確なサンプルトポグラフィーを生成し、エッジのオーバーシュートがなく公正も必要ではありません。パークAFMの多くの強みの一つとして、あなたの時間を節約し、よりよいデータを提供します。
- 低ノイズZ検出信号は、トポグラフィーのために使用されます。
- 大帯域幅で0.02nm程度の低いZ検出器ノイズ
- 前縁及び後縁のエッジのオーバーシュートがありません
- 公正は工場出荷時に一度だけ行う必要があります。
Park NX AFM

Conventional AFM
