|お問い合わせ|
  • NX10-AFM
    革新的研究への近道に Park NX10
  • SmartScan-AFM
    簡単＆パワフルシンプルな３ステップの操作 Park SmartScan
  • NX20-AFM
    故障解析や大型サンプルを用いた研究に最高の一択 Park NX20
  • NX-wafer-AFM
    自動欠陥レビュー機能を備えた唯一のウエハファブAFM Park NX-Wafer
our clients

Brochures

Download Brochures

  • All
  • Research AFM
  • Industrial AFM
  • Bio AFM
  • Options
  • Company
afm-options
smartscan-brochure

SmartScan

Japanese English
nx20-300mm-brochure

Park NX20 300mm

English Chinese
nx20-brochure
nx10-brochure
xe15-brochure
xe7-brochure
nx-hdm-brochure

Park NX-HDM

Japanese English
nx-ptr

Park NX-PTR

Japanese English
nx-3dm

Park NX-3DM

English
nx-wafer

Park NX-Wafer

Japanese English
nx-hivac

Park NX-Hivac

Japanese English
nx-bio

Park NX-Bio

Japanese English Russian
xe-3dm

Park XE-3DM

English
xe-wafer

Park XE-Wafer

English
xe-ptr

Park XE-PTR

English
xe-lcd

Park XE-LCD

English
xe-120

Park XE-120

English
afm-options

Park AFM Options

Japanese English

最新ニュース

Aug 25, 2020

パーク・システムズ、バーチャルACS会議にてナノリソグラフィおよびナノマニピュレーションを実現するソフトウェア、Park SmartLithoを発表...

Jul 7, 2020

パークシステムズが産業用大型サンプルのインライン不良解析AFMシステムとして、チップスキャンヘッド (TSH) を採用したPark NX-TSHを発表...

Jul 6, 2020

パーク・システムズ、OLED市場の成長に合わせAFMツールを強化

Jun 10, 2020

原子間力顕微鏡（AFM)の世界有数のメーカーであるパークシステムズが、ファイナンシャルタイムズのアジ...

Apr 24, 2020

パークシステムズは、Molecular Vistaへの株式投資を完了...

Mar 9, 2020

パークシステムズとimecが第2次JDPに署名し、半導体製造用のナノ計測ソリューションの開発への戦略...

Feb 20, 2020

パークシステムズはアカデミアおよびクリーンルームに産業用ツールを備えたパークナノサイエンスセンターを...

 

イベント

  November 11 - November 13 , 2020
JASIS 2020
  September 29 - September 29 , 2020
研究用AFM電気測定 EFM/KPFM - 2020年9月29日
  December 9 - December 11 , 2020
Nano Tech 2021 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
 

Atomic Force Microscopy | AFM Microscope | Park Systems

Copyright © 2020 パークシステムズ(Park Systems) - 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope),研究用/生産ライン用. All Rights Reserved.