|お問い合わせ|
  • NX10-AFM
    革新的研究への近道に Park NX10
  • SmartScan-AFM
    簡単＆パワフルシンプルな３ステップの操作 Park SmartScan
  • NX20-AFM
    故障解析や大型サンプルを用いた研究に最高の一択 Park NX20
  • NX-wafer-AFM
    自動欠陥レビュー機能を備えた唯一のウエハファブAFM Park NX-Wafer
our clients

Brochures

Download Brochures

  • All
  • Research AFM
  • Industrial AFM
  • Bio AFM
  • Options
  • Company
afm-options
smartscan-brochure

SmartScan

Japanese English
nx20-300mm-brochure

Park NX20 300mm

English Chinese
nx20-brochure
nx10-brochure
xe15-brochure
xe7-brochure
nx-hdm-brochure

Park NX-HDM

Japanese English
nx-ptr

Park NX-PTR

Japanese English
nx-3dm

Park NX-3DM

English
nx-wafer

Park NX-Wafer

Japanese English
nx-hivac

Park NX-Hivac

Japanese English
nx-bio

Park NX-Bio

Japanese English Russian
xe-3dm

Park XE-3DM

English
xe-wafer

Park XE-Wafer

English
xe-ptr

Park XE-PTR

English
xe-lcd

Park XE-LCD

English
xe-120

Park XE-120

English
afm-options

Park AFM Options

Japanese English

最新ニュース

Jan 8, 2021

パーク・システムズ、2020年のForbes AsiaのBest Under Billionにランクイン

Dec 7, 2020

2020 ナノ科学シンポジウム レビュー＆インタビュー

Oct 27, 2020

Park SystemsとHelmholtz Zentrum Berlinが材料科学の共同研究を発表

Sep 17, 2020

NanoScientific Magazine, Summer 2020

Aug 25, 2020

パーク・システムズ、バーチャルACS会議にてナノリソグラフィおよびナノマニピュレーションを実現するソ...

Jul 7, 2020

パークシステムズが産業用大型サンプルのインライン不良解析AFMシステムとして、チップスキャンヘッド ...

Jul 6, 2020

パーク・システムズ、OLED市場の成長に合わせAFMツールを強化...

 

イベント

  January 28 - January 28 , 2021
Nailing down Teflon Molecules - High Resolution AFM imaging for Polymer Science - Thursday, 28 Janua...
  February 11 - February 11 , 2021
PinPointing Polymers: Nanomechanical Characterization of Functional Polymer Blends - 11 February, 20...
  February 15 - February 19 , 2021
オンライン開催 Technology Unites Global Summit 2021
 

Atomic Force Microscopy | AFM Microscope | Park Systems

Copyright © 2021 パークシステムズ(Park Systems) - 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope),研究用/生産ライン用. All Rights Reserved.