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毎月お届けしておりますパーク・システムズNano academy、今回のウェビナーでは、パーク・システムズ独自の真のノンコンタクト™モードとの組み合わせだからこそできる新しい電気測定技術を含めKPFM/EFMについてご紹介いたします。

 
 
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パーク・システムズ #3 研究⽤AFM 電気測定#2 EFM/KPFM

2020年10月16日 金曜日

  • 4:00 pm – 4:40 pm
    (JST)
    東京
  • 3:00 pm – 3:40 pm
    (SGT)
    シンガポール
  • 4:00 pm – 4:40 pm
    (KST)
    ソウル
  • 9:00 am – 9:40 am
    (CEST)
    パリ、ローマ

Sideband KPFM on H14F20

今回のパーク・システムズ NanoAcademyは、研究用電気測定#2で、前回のEFM,KPFMの続きとなります。前回のお話も含めて説明させていただきますので、今回が初めてという方もどうぞご参加ください。

メインは、新しくリリースされたSideBand FM方式のKPFMについてです。特に新しい手法である、サイドバンド・ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)は、従来のリフトモードや他のKPFMメソッドに比べ、高い分解能と感度の向上でトポグラフィーと表面電位の同時イメージングを実現します。この手法では、カンチレバーの共振でトポグラフィーが検出され、カンチレバーの共振周波数から数kHz離れた測波帯の周波数でKPFM信号が検出されます。これにより、両方の信号を同時に測定できるため、取得時間を大幅に短縮しながら、表面電位イメージングの感度を向上させることができます。

このウェビナーでは、これまでのAM-KPFMと検出感度や分解能の違いを比較しながら、弊社独自のノンコンタクトモードのメリットを存分に活かした測定方法や動作原理について説明させていただきます。

発表者:後藤 千絵、パーク・システムズ・ジャパン株式会社 技術部 分析チーム

1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。

 

 

 

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