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毎月お届けしておりますパーク・システムズNano academy、今回のウェビナーでは、パーク・システムズ独自の真のノンコンタクト™モードとの組み合わせだからこそできる新しい電気測定技術を含めKPFM/EFMについてご紹介いたします。

 
 
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パーク・システムズ #4 原子間力顕微鏡とはー基礎コース

2020年12月4日 金曜日

  • 4:00 pm – 4:45 pm
    (JST)
    東京
  • 3:00 pm – 3:45 pm
    (SGT)
    シンガポール
  • 4:00 pm – 4:45 pm
    (KST)
    ソウル
  • 9:00 am – 9:45 am
    (CEST)
    パリ、ローマ

ノンコンタクトモード、AFMによるインジウムスズ酸化物(ITO)表面

走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、ナノスケールの世界を開拓する機器であるだけではなく、最も基本的な技術でもあります。 SPMは、第1世代の光学顕微鏡と第2世代の電子顕微鏡に続き、ナノスケールの世界を観察することができるため、「第3世代」の顕微鏡としても知られています。同時に、サンプルを受動的に観察する手動型顕微鏡に比べて多くの利点があります。

SPMの起源は、走査型トンネル顕微鏡(STM)の発明です。 STMは、プローブチップと真空状態のサンプル間のトンネル電流を使用して、表面トポグラフィを測定します。そのため、導体または半導体サンプルしか測定できないという制限があります。しかし、原子間力顕微鏡(AFM)が開発されると、まったく新しい範囲の測定が可能になりました。空気中の非導体を測定するだけでなく、サンプルの表面の物理的、化学的、機械的、電気的、および磁気的特性を測定することも、溶液中の生細胞を測定することも可能です。

SPMは確かに、未知数であるナノテクノロジーの世界に参入するための鍵であり、物理学、化学、生物学などの基礎科学や、機械工学や電気工学などの応用産業におけるさまざまな研究に不可欠な機器です。

今年の夏、本社ではアジアの新しいユーザー様に向けて基礎コースを開設しました。日本のお客様に向けましても同様の内容をご案内させていただきます。

これからAFMを始められる方、社内でご担当が替わった、大学の研究室で学生が入れ替わる、などの引継ぎご準備にお使いいただける内容になっており、永久保存版として、ご利用いただけます。

発表者:後藤 千絵、パーク・システムズ・ジャパン株式会社 技術部 分析チーム

1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。

 

 

 

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