2021年6月25日（金）:
原子間力顕微鏡による高分子ナノ力学物性の計測

兼ねてより、共同研究をお願いしております　あの東京工業大学の中嶋研究室から梁先生にご講演いただきます。AFM のソフトマテリアル測定と言えば業界で知らぬ人が いないほどの大有名でありながら親しみやすい先生方、研究員のみなさんの元、パーク・システムズ本社のサイエンティストや日本のアプリケーション担当者が多くの ディスカッションを重ねさせていただいております。機能のメカニズムと材料開発への応用に重要なナノ力学物性と巨視的力学物性の相関への理解を深めるために、相関実験手法と幾つかの事例を含めてご紹介いたします。

2021年7月30日（金）:
二次元半導体の成長と機能開拓

都立大学のナノ物性研究室から宮田先生にご講演いただきます。ごく最近人工合成が可能となり、研究材料として広く使われ始めた　厚みが原子１～数個分の層状物質は、 通常の3次元物質とは異なる物性が現れます。この新しい材料をいかに合成・構造を制御するか、単原子層デバイスへの未来につながる興味深いお話です。

2021年8月27日（金）:
圧電応答測定（PFM）

コンデンサー、アクチュエーター、不揮発性メモリなどに使われる圧電材料は、デバイスとして薄膜化 、微細化がますます進んでいます。PFMは、この微小領域の残留分極の分布を可視化することができ、 分光法によって分極の大きさと方向を1度にみることができます。また、探針と接触する表面に垂直な 成分だけでなく、面内の異なる方向に沿った成分を含む複雑なドメインの方向についても1つの垂直チ ャネルと2つの水平チャネルのベクトルを使って、より正確な情報を提供することができます。

2021年9月24日（金）:
シングルパスKPFMの原理詳細とハンズオンセッション

AFMの応用モードの 一つであるケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）を使用すると、試料表面の電位に関するデータを取得できます。KPFMは、試料表面の構造特性や材料組成を電位差と相関させるための理想的な局所プローブ法であり、ナノエレクトロニクス およびオプトエレクトロニクス 、金属腐食、エネルギー貯蔵などの様々な分野での応用が可能です。 パーク・システムズは、NXシリーズのすべてのAFMシステムにデフォルトでシングルパス技術のサイドバンドKPFM を実装しています。この高度な測定方法 により、トポグラフィーと同時に高精度で定量的なポテンシャル のマッピングが可能です。 このウェビナーでは、KPFMテクニックの詳細と利点について 、使い勝手良さデモンストレーションと併せてご覧いただきます。