|お問い合わせ|
  • Park
    AFM
    テクノロジー
 

真のサンプルトポグラフィー

低ノイズZ検出器による正確なサンプルトポグラフィー測定

ピエゾクリープによるエラーのない真のサンプルトポグラフィー™

弊社の原子間力顕微鏡(AFM)は、市場でも最も効果的な低ノイズのZ検出器が装備されており、大きな帯域幅で0.02 nmのノイズを実現しています。これにより、非常に正確なサンプルトポグラフィーを得ることができ、エッジのオーバーシュートもありません。Park NX10により、時間を節約できると同時に、より質の高いデータの取得が可能です。

  • トポグラフィー測定に低ノイズZ検出器信号を使用
  • 大帯域幅で0.02 nmの低いZ検出器ノイズ
  • リードとテールのエッジでエッジのオーバーシュートなし
  • キャリブレーションは、出荷時に工場内で一度のみ

Park NX AFM

no-creep-effect

従来のAFM

creep-effect
 

True Sample Topography