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  • Park AFM
    イメージングモード
    Parkは、最も革新的なイメージングモードと技術を提供しています。
    弊社の真のノンコンタクト™モードは、世界で唯一、完全に非接触のAFMスキャンモードであり、
    標準のスキャニングモードでも最も正確なスキャンが可能です。

Park AFM イメージングモード

真のノンコンタクト™モード

non-contact-mode

サンプルの表面形状を維持しながら、繰り返し高解像度で正確なデータを出力

真のノンコンタクト™モードでは、探針先端の鋭さとサンプル表面を維持しながら、より正確な結果を得ることができます。このモードでは、圧電素子がカンチレバーを小さい振幅で振動させ、カンチレバーの共振周波数に近い固定周波数を振動させます。探針をサンプルに近づけると、探針とサンプル間のファンデルワールス力により、カンチレバーの振動の振幅と位相が変動します。これらの変化は、Park AFMの特許取得済みであるZサーボフィードバックシステムによってモニタリングされ、サンプル表面や先端にダメージを与えることなく、先端と表面の距離を数ナノメートルに維持します。

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Nano-arrayed-particles

ナノアレイ粒子
スキャンサイズ:1 μm、250 nm、120 nm
使用プローブ: AR5T-NCHR
Park NX10 ノンコンタクトモードでイメージング

コンタクトモード

contact-mode

表面をイメージングするのに最も簡単な方法

コンタクトモードは、サンプルの表面形状を取得する最もシンプルで簡単な方法です。試料表面でのカンチレバーの歪みを一定に維持するZスキャナの位置から形状信号が送られる仕組みです。

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contact_pmg-crystal

[最初のトポグラフィー]  /   [30分後のトポグラフィー]

グリホサート溶液中のPMG結晶
スキャンサイズ:2 μm
使用プローブ: Biolever mini
液中にてPark NX10 コンタクトモードにてイメージング

タッピングモード

tapping-mode

ノンコンタクトモードの代替となるタッピングモードでは、カンチレバーが振動するものの、振幅ははるかに大きくなります。振動が大きいほど制御回路に十分大きい偏向信号を出すため、表面形状フィードバックの制御が容易になります。適度なAFM結果が得られますが、チップ先端の鋭さが速い速度で鈍くなり、最終的にはイメージング解像度も低下させます。

 

phase-imaging-crystal-facetts

[トポグラフィー]   /   [位相]
同時に収集したクリスタルファセットの位相イメージング

クリスタルファセット
スキャンサイズ:10 μm
使用プローブ: AC160TS
Park NX10 タッピングモードにてイメージング

 

Imaging Modes