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  • Park AFM
    ナノメカニカルモード
    メカニカルスキャンモードを用いることで、サンプルの機械的特性を簡単に測定できます。
    各機能がParkのトレードマークである正確さを備えているため、信頼できるデータを収集可能です。

Lateral Force Microscopy (LFM)

Mapping of the Frictional Force

Park AFMs are not only capable of detecting cantilever deflections in the vertical direction, but also the lateral, producing a lateral force microscopy image.

Lateral-Force-Microscopy-LFM

Lateral deflection signals of the cantilever.

 
lfm-polymer

[Topography] / [LFM Image (Left to Right)] / [LFM Image (Right to Left)]

Polymer on Silicon
Scan size: 2µm
Using Probe: NSC36C
Imaged on a Park XE-Series using LFM Mode.
 

Nanomechanical Modes