最も拡張性のあるAFMソルーション
ParkのSPMは、幅広いモードとオプションをサポートします。
今日の研究者は、多様な測定条件とサンプル環境下で広範囲にわたる物理特性を特徴づける必要があります。パーク・システムズは、幅広いSPMモード、最大数のAFMオプション、および高度なサンプル特性評価のために、業界で最高のオプションの互換性とアップグレード性を提供します。
Park XE7には、幅広いSPMモードを導入しています。（*オプションで利用可能）
スタンダードイメージング
化学特性*
力計測*
電気特性*
- コンダクティブ AFM
- IVスペクトロスコピー
- ケルビンプローブ顕微鏡(KPFM)
- 走査型キャパシタンス顕微鏡 (SCM)
- 走査型拡がり抵抗法顕微鏡 (SSRM)
- 走査型トンネリング顕微鏡 (STM)
- 走査型トンネリングスペクトロスコピー (STS)
- フォトカレントマッピング (PCM)
